פורטל תעשיית השבבים בישראל מבית מגזין

פורטל תעשיית השבבים בישראל מבית מגזין

צ'יפורטל - פורטל של תעשית השבבים בישראל
חדשות מתעשיית השבבים בישראל
semvision אפלייד מטיריאלס
 מערכת SEMVision G7 החדשה של אפלייד מטיריאלס. צילום יחצ



מערכת SEMVision G7 החדשה של אפלייד היא כלי ה-DR-SEM (כלי בקרה ואנליזת פגמים מבוסס מיקרוסקופ אלקטרונים Defect Review SEM) היחיד המשלב את היכולת להפיק תמונות של הפגמים ברזולוציה גבוהה עם יכולת סיווג מבוססת Machine Learning מוכחת - יכולת זו מאפשרת ליצרני השבבים סיווג מהיר של הפגמים, זיהוי הגורמים להם ובכך מסייעים לפתור בעיות תפוקה ולשפר את תהלך הייצור.


"ככל שתכנון השבבים נעשה מתקדם ומורכב יותר, כך גם אתגרי הייצור. יצרני השבבים מחפשים דרכים לקצר את משך הזמן עד לייצוב הייצור והשגת תפוקה אופטימלית, אמר עופר גרינברגר, סגן נשיא ומנהל חטיבת Process Diagnostics and Control באפלייד מטיריאלס. "מערכת SEMVision G7 מרחיבה את יכולת הדימות של אפלייד ומאתרת פגמים קריטיים החשובים ליצרנים, לרבות בשולי פרוסות הסיליקון (Wafer), אזורים שבהם פגמים שלא אותרו עלולים לפגום בתפוקת השבב. באמצעות אלגוריתמים חדשים שלMachine Learning, פגמים מסווגים ומנותחים בזמן אמת, כך שניתן להבטיח בקרת תהליך מדויקת ועקבית והגעה לתהליך ייצור יציב."


מלבד יכולות דימות ייחודיות בחוד פרוסת הסיליקון ובשוליה, מציעה מערכת ה-SEMVision G7 מקור אור משופר יחד עם מנגנון איסוף, המאפשרים איתור פגמים שגודלם עד ל-18 ננומטר בפרוסות סיליקון חלקות או שעברו תהליך כיסוי אחיד. זיהוי ואיפיון הפגמים על פרוסות הסיליקון החלקות מספק ליצרני שבבים מידע המסייע בקביעת מקור הפגם, והודות לכך האצת פתרון הבעיה.
טכנולוגיית סיווג הפגמים האוטומטית Purity™ II, המבוססת על מערכת Purity™ ADC, היחידה בתעשייה שהוכחה בסביבת ייצור, מרחיבה את יכולות ה- Machine Learning של SEMVision G7 ומאפשרת לה ללמוד שינויים בתהליך ולהתאים במהירות ובאוטומטיות את מנוע הסיווג הסטטיסטי. יכולת Machine Learning חדשה, משלבת נתוני תכנון הנדסיים עם תמונות SEM על מנת להפיק סיווג מבוסס-מיקום של הפגם ואנליזה מדויקת יותר מבחינה קונטקסטואלית – יכולת זו מאיצה את ניתוח הגורמים לפגם. אלגוריתם חדש לחילוץ פגמים קריטיים, מתעדף מיון של פגמים שהוגדרו מראש במנוע הסיווג על מנת להבטיח שהפגמים החשובים והמעניינים ביותר יודגשו וייוצגו בעדיפות גבוהה. הודות ליכולות ניתוח מהיר, מדויק ואוטומטי של הפגמים באמצעות בינת Machine Learning, מערכת סיווג הפגמים האוטומטית Purity II ADC מאפשרת ייצוב מהיר של תהליכי ייצור וניהול תפוקה הדוק יותר.


עוד בתחום צב"ד

כתבות נוספות בתחום

צב"ד‬
Advanced Energy ממנה את אמיר וקס למנכ"ל חברת הבת החדשה שלה בישראל.
מינוי זה משתלב במאמציה של AE לבסס את צמיחתה בתחום עסקי השבבים בישראל וחיבורה לתעשייה המקומית. חברת הבת תציע מוצרים נבחרים מהמגוון של AE,...
קרא עוד
‫צב"ד‬
שחקנים בתחום הבדיקות והאנליזות של חומרים ירוויחו מהשגשוג בתחום ה-IOT
מקורות בתעשייה אמרו שהייצור הכמותי של תהליך 7nm אצל Taiwan Semiconductor Manufacturing Company (TSMC) מלווה בביקוש חזק לניתוח חומרים מתקדם, שמספק הזדמנויות...
קרא עוד



תגובות (0)Add Comment
כתוב תגובה
 
 
יותר קטן | יותר גדול
 

security image
העתק תווים מוצגים


busy

שדרת הלוגואים

  • 1-Synopsys_Logo_HQ
  • 2-Umclogo
  • 3-EMC
  • 1
  • 5-Gary
  • 6-SIA
  • 7-muadon-shovevim
  • 8-Logo_Chipex
  • 9-Chiportal_logo_HR
  • 10-TAPEOUT_Logo
 
www.Deezee.co.il בניית אתרים בעצם גלישתכם באתר הכנם מסכימים לתנאי השימוש בו - לחצו כאן לקריאת תנאי השימוש - כל הזכויות שמורות Chiportal (c) 2010


CHIPORTAL RSS FEEDS
כל החדשות
מאמרים ומחקרים
מוצרים חדשים והודעות לעיתונות