פיתוח ישראלי נוסף מבית אפלייד מטיריאלס ישראל: מיקרוסקופ בעל רזולוציה של ננומטר אחד

מאת אבי בליזובסקי רביעי, 07 דצמבר 2011 00:28
גרסת הדפסה

SEMVisionG5_5589_v2
מערכת Applied SEMVision G5 החדשה מפיקה תמונות אלקטרוניות של השבב בפיקסל בגודל של כננטומטר אחד

בתום תהליך פיתוח  מורכב (בתחומי הפיזיקה, חומרה, אלגוריתם ותוכנה) מציגה היום אפלייד מטיריאלס, העוסקת בתחום פיתוח וייצור מערכות לתעשיית השבבים, את מערכת  Applied SEMVision G5 , מיקרוסקופ אלקטרוני המבצע לראשונה בדיקה אוטומטית לחלוטין של שבבי מחשב בתהליכי ייצור. מערכות ה -  SEMVisionמשמשות כיום את כל ענקיות הטכנולוגיה המייצרות, בין היתר, מכשירי סלולריים חכמים (דוגמת apple-iPhone ו- (Samsung Galaxy מחשבים אישיים ועוד.  כמעט כל השבבים המתקדמים  המיוצרים בעולם עוברים דרך מכונות אלו בתהליך הייצור.

מערכת Applied SEMVision G5 החדשה מפיקה תמונות אלקטרוניות של השבב בפיקסל בגודל של כננטומטר אחד! (אלפית המיקרון או מיליונית המילימטר) ומאתרת באופן אוטומטי פגמים. כך, ניתן לאפיין ולפתור באופן יעיל יותר בעיות בשכבות השבבים המיוצרים בטכנולוגיה מתקדמת של 22 ננומטר, ולהגיע מהר יותר לרמות תפוקה גבוהות של שבבים תקינים ומוכנים לשימוש.


הטכנולוגיה החדשה של אפלייד מטריאלס פותרת בעיה מרכזית עימה מתמודדים יצרני שבבים: ככל שרכיבי השבב קטנים יותר וצפופים יותר – קשה יותר לזהות בהם פגמים קריטיים. הטכנולוגיה פורצת הדרך צפויה עתה לאפשר את המשך תהליכי המזעור ודחיסת הרכיבים בקצב שנחזה בחוק מור (Moore). חוק זה, שנוסח לפני עשרות שנים על ידי אחד מבכירי אינטל, קובע כי מספר הטרנזיסטורים שאותם ניתן לדחוס על גבי שבב מוכפל מדי 18-24 חודשים. ה-Applied SEMVision G5 מהווה בסיס הכרחי לפיתוח טכנולוגיות עתידיות שיאפשרו פיתוח וייצור של הדורות הבאים של מכשירים כגון הטאבלט והסמארטפון, מערכות רפואה,תקשורת ותשתיות וזיכרונות מכל הסוגים.


המערכת החדשה מקצרת  את זמן בדיקת השבבים בכ- 35% באמצעות אוטומציה מלאה של תהליך הזיהוי ושיפור משמעותי של איכות התמונה, מהירות הפקת התמונות ואיתור מדויק יותר של פגמים אמיתיים (לעומת התראות שגויות). במבחנים מוקדמים הוכיחה המערכת רמת דיוק גבוהה יותר וקצב אבחון מהיר יותר בהשוואה למפעיל אנושי, באופן המאפשר ללקוחות לבחון ולבדוק יותר שבבים  בתכיפות גבוהה יותר, להאיץ את תהליכי הלימוד ושיפור איכות הייצור, ולהעלות את רמות התפוקה ושיעור השבבים התקינים היוצאים מפס הייצור.

הפיתוח הישראלי, שעתיד לשרת לקוחות בעולם כולו, מהווה ציון דרך נוסף של אפלייד בהובלת תחום בדיקות השבבים בעולם. המערכת מהדור הקודם  SEMVISION G4, זכתה בשנת 2009 בפרס היוקרתי Editors' Choice Best Product Award של המגזין Semiconductor International (SI), בעיקר בשל שיפור משמעותי באיכות התמונה שהתאפשר הודות לאמצאות שפותחו ויושמו באפלייד מטריאלס ישראל.

איתי רוזנפלד, נשיא ומנכ"ל אפלייד מטיריאלס ישראל, המשמש גם כסגן נשיא אפלייד מטריאלס העולמית, מסר היום: "מערכת ה- Applied SEMVision G5 החדשה תאפשר ליצרניות האלקטרוניקה המובילות לפתח את התהליכים המתקדמים ביותר ולהעבירם לייצור בדרך המהירה והיעילה ביותר. המערכת מספקת ללקוחות המפעילים אותה יתרון תחרותי, באמצעות קיצור הזמן והורדת העלות הנדרשת להצגת מוצרים חדשים בשוק, החיוני בעידן של קיצור מחזור חיי המוצרים ותחרותיות המחיר בתעשייה. אנו גאים על כך שהטכנולוגיה פורצת הדרך היא פרי פיתוח וייצור ישראלי ושבעזרתה תמשיך אפלייד מטיריאלס להיות מובילה עולמית  בתחום בדיקות השבבים".
עוד בתחום צב"ד

כתבות נוספות בתחום

‫צב"ד‬
קיידנס משיקה את Celsius, פתרון לשוק התכנון וניתוח מערכות
בעידן שבו שואפת תעשיית האלקטרוניקה למוצרים קטנים יותר, מהירים יותר, חכמים ומורכבים יותר, עם צפיפות הספק גבוהה יותר, מתעורר צורך בשימוש...
קרא עוד
‫צב"ד‬
אדוונטסט מציגה פתרונות בדיקה חדשים עבור 5G, רכב וזיכרון
ההכרזה התקיימה במהלך כנס סמיקון טאיוואן המתקיים השבוע
קרא עוד