שיטה אופטית חדשה מאפשרת לבדוק סרטי MXene דקים בלי לפגוע ברכיב
צוות מחקר גרמני־ישראלי הראה כי אליפסומטריית הדמיה יכולה למדוד עובי, אחידות ותכונות הולכה של סרטים דקים מבוססי MXene בזמן תהליך ...
תגית: אליפסומטריה
השותפים שלנו
לחצו למשרות פנויות בהייטק
הרשמה לניוזלטר של ChiPortal
הצטרפו לרשימת הדיוור שלנו
