לדברי ד"ר משה אזולאי, חבר סגל בית הספר להנדסה ומנהל המעבדה החדשה, מדובר ביוזמה משותפת שלו ושל אבי לונדנר, סוכן חברת גטר, המייצגת בארץ את יצרנית ציוד הבדיקות SEMICAPS מסינגפור. החברה הסינגפורית השקיעה במעבדה ציוד בשווי שלושה מיליון דולר והיא תקבל החזר מההכנסות שתקבל ממתן השירותים לחברות התעשייתיות
| ד"ר משה אזולאי מדגים את המעבדה לחקר כשלים בשבבים באוניברסיטת בר-אילן |
מעבדה ייחודית מסוגה בישראל לאמינות רכיבים אלקטרוניים וחקר כשלים ברכיבים אלקטרוניים, נחנכה בביה"ס להנדסה באוניברסיטת בר-אילן.
פרופ' ג'ואי ברנשטיין, מביה"ס להנדסה באוניברסיטת בר-אילן אומר כי בחלק מהמעבדה לחקר כשלים אלקטרוניים הותקן לאחרונה ציוד חדש ומתחוכם לזיהוי ואיכון כשלים – SOM /LTP 4000 (מיקרוסקופ אופטי סורק ומכשיר לתזמון לייזר).
לדברי ד"ר משה אזולאי, חבר סגל בית הספר להנדסה ומנהל המעבדה החדשה, מדובר ביוזמה משותפת שלו ושל אבי לונדנר, סוכן חברת גטר, המייצגת בארץ את יצרנית ציוד הבדיקות SEMICAPS מסינגפור. החברה הסינגפורית השקיעה במעבדה ציוד בשווי שלושה מיליון דולר והיא תקבל החזר מההכנסות שתקבל ממתן השירותים לחברות התעשייתיות.
ד"ר אזולאי מסביר כי המעבדה תהיה פתוחה לכל תעשיית האלקטרוניקה בישראל, תחילה היא תשמש חמש חברות המפתחות שבבים אשר שותפות בקונסורציום שהקים את המעבדה: צורן, סנדיסק, מארוול, פריסקייל ו-NDS. החברות תוכלנה לבדוק את השבבים שהן מייצרות בעת התכנון או לאחר ייצור של מדגמים ולא יצטרכו להמתין עד שהתקלה תתגלה בייצור המוני.
התמורה לאוניברסיטה מהפעלת המעבדה תהיה במתן גישה בחינם לציוד המתקדם ביותר ולרכיבים בטכנולוגית הקצה של המיקרואלקטרוניקה, המפותחים על ידי חברות האלקטרוניקה מהמובילות בעולם.כמו כן תוכל האוניברסיטה לערוך מחקרים בידי סטודנטים ואנשי סגל בתחומי הנדסת חשמל והנדסת אלקטרוניקה. "מצד אחד יש לנו מכונה שאנחנו משתמשים בה בחינם, ומצד שני חברות התעשיה שמגיעות לכאן נותנות לנו את הרכיבים שעליהם אנחנו עושים את המחקר, כי בלי רכיבים אלקטרוניים מצד אחד ומעבדה מצד שני, אין מחקר."
כדוגמה לבדיקות שניתן לערוך במעבדה החדשה מונה ד"ר אזולאי את האפשרות לבחון כיצד חלקים תת מיקרוניים של השבב פועלים בתדירות גבוהה, שכן, כידוע, מהירות השבבים הולכת וגדלה וגודלם של הרכיבים בתוך השבבים הולך וקטן, מה שמהווה אתגר גם בכל הקשור לבדיקות. בין היתר מאפשר אחד מרכיבי המכשיר למדוד באמצעות לייזר אותות מתוזמנים באיזורים שונים בתוך השבב, ללא מגע.
במהלך טקס חנוכת המעבדה התקיים גם כנס מדעי שבו יציגו חוקרים מאוניברסיטת בר-אילן מחקרים בתחום אמינות מערכות אלקטרוניות. פרופ' ברנשטיין, שחקר את הפיזיקה של אמינות מערכות אלקטרוניות, פרופ' זאב זלבסקי, שחוקר את תחום ההדמיה בסופר רזולוציה, פרופ' משה סינווני ידבר על שימוש במצלמות בכלל ובמצלמות אינפרה אדום בפרט ולייזרים לניתוח כשלים במערכות אלקטרוניות ודר' אזולאי ירחיב על היישומים הייחודיים של המעבדה החדשה.
פרופ' ברנשטיין מדגיש כי בר-אילן היא האוניברסיטה היחידה שיש לה יכולות מו"פ מסוג זה. "קיימות מעט מאוד מערכות מסוג זה בישראל (לדוגמה באינטל). הצלחנו לייסד שיתוף פעולה עם חברות פיתוח שבבים מובילות, דבר שיאפשר לנו לחקור את ההתקנים המתקדמים ביותר בסקאלה ננומטרית – בטכנולוגיות של 50 ננומטר ומטה." אומר פרופ' ברנשטיין.
