תגית: מטרולוגיה

המעבר לצ'יפלטים תלת־ממדיים, פוטוניקה משולבת באריזה, חומרים דו־ממדיים וקירור מתקדם מחייב תשתית מטרולוגית חדשה. בלי תקני מדידה אמינים, גם טכנולוגיות ...

המערכת מיועדת לבקרת תהליך inline בייצור GAA וב־DRAM מתקדם, ומטרתה לקצר משוב, לאתר חריגות כמעט בזמן אמת ולשפר תשואה

NWO ו-Holland High Tech מחלקים את התקציב שווה בשווה בין אינטגרציה הטרוגנית בשבבים לבין ייצוריות, מטרולוגיה וסקייל־אפ של מערכות קוונטיות; ...