בשנים האחרונות חלה עלייה במורכבות החומרים ובמזעור הרכיבים, המחייבת כיום בדיקות ברזולוציה המתאפשרת רק באמצעות מיקרוסקופיה אלקטרונית חודרת בטכנולוגיות STEM ו-TEM
| רועי פורת, מנכ"ל קמטק |
קמטק, ספקית פתרונות בדיקה אוטומטיים לבקרת תהליכי היצור לתעשיות המוליכים למחצה והמעגלים המודפסים, הודיעה היום כי יצרנית שבבים מובילה בחרה במוצר Xact, כפתרון לתהליך הכנת דגמים ל-TEM -Transmission Electron Microscope. מערכת ה- Xact הותקנה אצל הלקוח במהלך הרבעון השני של 2011.
בשנים האחרונות חלה עלייה במורכבות החומרים ובמזעור הרכיבים, המחייבת כיום בדיקות ברזולוציה המתאפשרת רק באמצעות מיקרוסקופיה אלקטרונית חודרת בטכנולוגיות STEM ו-TEM. תהליך הכנת הדגמים לניתוח כשלים וחקר הביצועים בשלב ה-Front-end בקו הייצור וניתוח כשלים מחוץ לקו הייצור, מהווה "צוואר בקבוק" מכיוון שטכנולוגיות הכנת הדגמים הקיימות אינן מספקות את רמת הרזולוציה והקונטרסט הגבוהות הנדרשות כיום בשוק. מערכת Xact של קמטק מתגברת על מגבלות אלה באמצעות טכנולוגיית דיקוק על ידי שימוש בקרן יונים ( AIM) המאפשרת הכנת דגמים מהירה בתפוקה גבוהה יותר, עם פגיעה מינימאלית במבנה החומר.
רועי פורת, מנכ"ל קמטק מסר: "המומנטום העסקי שלנו נמשך עם קבלת הזמנה מלקוח אסטרטגי נוסף. זוהי עדות חזקה ליתרון הטכנולוגי הגדול שיש לנו בתחום זה. הזמנה זו מהווה צעד חשוב נוסף במאמצי החדירה שלנו לשוק הכנת הדגמים. אנו מאמינים שבמהלך הרבעונים הקרובים נמשיך במומנטום צמיחה זה ונחדור אל לקוחות חדשים עם טכנולוגיית Xact".
| {loadposition content-related} |
