רמי לנגר, סגן נשיא ומנהל חטיבת המוליכים למחצה של קמטק: "פלטפורמת הדור הבא שלנו שתוכננה לתמוך בכלל לקוחות ה-backend , ובעיקר לאלו המתמחים בייצור מארזים תלת מימדיים, תפעל בתפוקה גבוהה
רפי עמית, היו"ר הפעיל של קמטק |
קמטק הודיעה כי מערכת הדור הבא לבדיקה ומדידה של מעגלים משולבים (IC) של החברה נשלחה ללקוח אסטרטגי באסיה לבחינה. מדובר באבן דרך מהותית, הממצבת את קו המוצרים של קמטק בטכנולוגיות הבדיקה המתקדמות ביותר המיועדות לשוק המארזים המתקדמים ( Advanced Packaging).
שוק ה- Advanced Packaging הצומח במהירות, תלוי מהותית ביכולות בדיקה ומדידה מתקדמות של השבבים לפני הכנסתם למארז ובכך להביא את ייצורם של מעגלים משולבים (IC ) במארזים תלת מימדיים לכדאיות ייצור ולאמינות.
רמי לנגר, סגן נשיא ומנהל חטיבת המוליכים למחצה של קמטק: "פלטפורמת הדור הבא שלנו היא תוצר של שנים רבות של מחקר ופיתוח, כמו גם שיתוף פעולה אינטנסיבי עם מוסדות מחקר מובילים ברחבי העולם. הפלטפורמה החדשה, שתוכננה לתמוך בכלל לקוחות ה-backend , ובעיקר לאלו המתמחים בייצור מארזים תלת מימדיים, תפעל בתפוקה גבוהה, דיוק חסר תקדים ויכולות מתקדמות נוספות. אנו צופים כי נתחיל למכור את המערכת החדשה ללקוחות במהלך המחצית השנייה של שנת 2014".
רפי עמית, מנכ"ל קמטק: "אני שמח על הזכות להוביל את חדירתה של המערכת החדשה שלנו לשוק ה backend של תעשיית השבבים ובעיקר לתחום המארזים התלת מימדיים. אני מאמין כי מערכת זו תחזק את מעמדנו כמובילי שוק הבדיקות והמדידות בתחום ה Back-End ובמיוחד בתחום המארזים המתקדמים (Advanced Packaging) לשנים הבאות".
קו מוצרי הבדיקה של קמטק מאפשר ליצרני המוליכים למחצה ומפעלי ה Back-End של תעשית השבבים, לוודא שכל IC שנכנס למארז הוא ללא פגמים וכתוצאה מבדיקה זו ה yield של המארז הוא גבוה ביותר.
בנוסף, מאתרות מערכות הבדיקה של קמטק פגמים בתהליכי הייצור. המערכת החדשה של קמטק מספקת יכולות בדיקה ומדידה דו-מימדית ותלת-מימדית חסרות תקדים לפרוסות שבבים בכל שלבי המארז. מערכותיה החדשות של קמטק נותנות מענה לצרכים הייחודיים של מרבית היישומים המתקדמים הקיימים כיום בשוק.
{loadposition content-related} |